收藏本站|网站地图|在线留言|关于艾思荔您好,欢迎访问冷热冲击试验箱网站!
广东

热门搜索: 分体式冷热冲击试验箱| 粉尘试验箱|

400-039-9905
高低温试验箱
当前位置:主页 > 企业新闻 > 冷热冲击试验箱资讯 >

IC封装抗冲击测试冷热冲击箱

文章出处:http://www.asli168.com/编辑:admin作者:艾思荔人气:发表时间:2019-05-13 16:13【

现在IC封装半导体行业相对来说是特别受欢迎,而生产IC封装的企业也是越来越多,企业多了,自然竞争力就大了,所以企业就需要把自身产品的质量做到更好、更加有优势。而IC封装抗冲击测试冷热冲击就逐渐在IC封装企业中频繁的出现,冷热冲击箱也成为IC封装的头号目标,也就是说想要更好的品质,抗冲击测试是少不了的。

  IC封装抗冲击测试的实验条件主要是:-55℃~125℃,冲击温度时间需要小于和等于1min,温度转换时间需小于和等于5m,温度恢复停留时间需在15min以内,高温停留15min,低温停留15min,一共做1000个循环,这就是IC封装需要的抗冲击测试的主要技术指标。

  台湾艾思荔检测仪器有限公司专业IC封装冷热冲击箱、电子芯片冷热冲击箱、汽车冷热冲击箱、光电冷热冲击箱等等,了解更多:0769-22851843*821,手机:13826902476

冷热冲击试验箱

下一篇:下一篇:冷热冲击箱维修及日常保养 上一篇:上一篇:冷热冲击箱成功入选军工企业