IC封装抗冲击测试冷热冲击箱

文章出处：http://www.asli168.com/编辑：admin作者：艾思荔人气：发表时间：2019-05-13 16:13【大中小】

现在IC封装半导体行业相对来说是特别受欢迎，而生产IC封装的企业也是越来越多，企业多了，自然竞争力就大了，所以企业就需要把自身产品的质量做到更好、更加有优势。而IC封装抗冲击测试冷热冲击箱就逐渐在IC封装企业中频繁的出现，冷热冲击箱也成为IC封装的头号目标，也就是说想要更好的品质，抗冲击测试是少不了的。

　　IC封装抗冲击测试的实验条件主要是：-55℃～125℃，冲击温度时间需要小于和等于1min，温度转换时间需小于和等于5m，温度恢复停留时间需在15min以内，高温停留15min，低温停留15min，一共做1000个循环，这就是IC封装需要的抗冲击测试的主要技术指标。

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冷热冲击试验箱