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高低温试验箱
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HAST高压加速老化试验箱压力装置

文章出处:www.asli168.com编辑:admin作者:艾思荔人气:发表时间:2016-04-19 13:28【
HAST高压加速老化试验箱特性:
HAST高压加速老化试验试验过程自动运转至完成结束,使用简便。
三重压力安全保护装置,采用控制器内部两段式超温保护+机械式压力安全保护装置。
手动安全保护排压伐,警急安全装置两段式自动排压伐。
双重过热保护装置:当锅内温度过高时,机器鸣叫警报并自动切断加热电源。
LED数字型温度控制器可作精确试验温度之设定、控制及显示,PID控制,误差±0.1℃。
LED数字型定时器,当锅内温度到达后才开始计时以确保试验完全。
开始运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到最佳蒸气质量。
精准的指针式压力指示,误差±0.1。
锅内安全装置:锅门若未关紧则机器无法启动。
安全阀:当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压。
门盖保护:特制材质制成可防止操作人员接触烫伤。
一体成型硅胶门垫圈,气密度良好,且使用寿命长。
HAST高压加速老化试验箱技术优势:
独家采用全自动补充水位之功能,试验永不中断.
试验过程的温度、湿度、压力,是真正读取相关传感器的读值来显示的,而不是通过温湿度的饱和蒸汽压表计算出来的,能够真正掌握实际的试验过程
干燥设计,试验终止采用电热干燥设计确保测试区(待测品)的干燥,确保稳定性。
精准的压力/温度对照显示,完全符合温湿度压力对照表要求。
HAST高压加速老化试验箱用途:
  HAST高压加速老化试验箱的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。
  用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
  随着半导体可靠性的提高,目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间,采用了最新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型:即PCT和USPCT(HAST)现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。注意事项:USPCT现在称为HAST(高度加速应力试验)。
  HAST高压加速老化试验箱设计原理:工作室为圆筒状,在工作室的底部可存水,另配置加热管,在做试验时把水烧成蒸汽,水因蒸发产生压力,以达到产品试验所要求的温度,湿度,压力条件。